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关于即将发布《集成电路晶圆/晶粒小微缺陷测试方法》 团体标准的公示

更新时间:2026-08-20 15:57:38

    根据《浙江省半导体行业协会团体标准管理办法》及相关文件要求,协会组织的团体标准《集成电路晶圆/晶粒小微缺陷测试方法》已通过评审专家的审核和协会审定,即将发布。现就该项标准进行公示,公示期为10天(2026年8月14日-8月23日),若对标准内容有异议,请及时与协会联系。

    协会联系人:赵燕明  18324435116

 

浙江省半导体行业协会

2026年8月14日

    附件:《集成电路晶圆/晶粒小微缺陷测试方法》团体标准

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关于即将发布《集成电路晶圆晶粒小微缺陷测试方法》团体标准的公示.pdf
附件:《集成电路晶圆晶粒小微缺陷测试方法》标准正文.pdf
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