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关于批准发布《新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、 相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法》团体标准的公告

更新时间:2025-01-10 15:52:18

 

 

    根据《浙江省半导体行业协会团体标准管理办法》及相关文件要求,经评审专家审核通过,现批准发布《新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法》团体标准,标准号为T/ZJBDT 001-2025。该项标准于2025年1月10日发布,自2025年1月10日起实施。

     现予以公告。

 

 

浙江省半导体行业协会

2025年1月10日

文件下载

附件1:《新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法》第1部分.docx
附件2:《新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法》第2部分.docx
附件3:《新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法》第3部分.docx
附件4:《新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法》第4部分.docx
关于批准发布《新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法》团体标准的公告.pdf
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